Filmetrics F10-RT薄膜厚度測量?jì)x 僅需要透過(guò)單擊滑鼠就能夠同時(shí)收集反射與透射光譜，不到一秒鐘的時(shí)間，陣列的光譜儀就可以快速的收集到資料。

F2-RT 光譜反射和透射測量系統是美國Filmetrics新推出的物超所值同時(shí)測量反射率和透射率的儀器。

Filmetrics F10-ARc薄膜分析儀 目標光譜與多條反射光譜比較 – 自動(dòng)評估反射率，*小/*大位置，并得出明確的讀數結論。大 大的減少了人為造成的讀數和計算誤差。

Filmetrics 自動(dòng)化厚度測量?jì)x能以每秒測繪兩個(gè)點(diǎn)的速度快速的測繪薄膜厚度，一般較短的波長(cháng) （例如， F50-UV） 可用于測量較薄的薄膜，而較長(cháng)的波長(cháng)則可以用來(lái)測量更厚、更不平整以及更不透明的薄膜。

Filmetrics 薄膜厚度測量?jì)xF10-HC薄膜測量系統，能夠快速的分析薄膜 的反射光譜資料并提供測量厚度，加上F10-HC軟件*的先進(jìn)模擬演算法的設計，能夠在厚膜中測量單層與多層（例如：底漆或硬涂層等）。

不論您是想要知道薄膜厚度、光學(xué)常數，還是想要知道材料的反射率和透過(guò)率，Filmetrics薄膜厚度測量?jì)xF20都能滿(mǎn)足您的需要。僅需花費幾分鐘完成安裝，通過(guò)USB連接電腦，設備就可以在數秒內得到測量結果。